1、GB10592-2008 高、低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度變化)
2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗A:低溫試驗方法
3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗 B:高溫試驗方法
4.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:(IEC60068-2-78:2001) 試驗 Cab:恒定試驗方法
5.GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:(IEC68-2-14) 試驗 N:溫度變化
6.GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗方
7.GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗方
8.GB 24977-2010
9.GB/T 4893.7-2013 |