高低溫試驗箱：

高低溫試驗箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時(shí)的適應性試驗。用于產(chǎn)品設計，改進(jìn)，鑒定及檢驗等環(huán)節。

符合標準：

1、GB10592-2008 高、低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度變化）

2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1:2007） 試驗A：低溫試驗方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1：2007） 試驗 B：高溫試驗方法

4.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-78:2001） 試驗 Cab：恒定試驗方法

5. GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-30:2005） 試驗 Db：交變試驗方法

6. GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC68-2-14） 試驗 N：溫度變化

7. GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗方法

8.GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗方法

9.GB 24977-2010

10.GB/T 4893.7-2013